科技成果
成果名称: 一种阵列结构光学元件的面形误差测量方法
成果登记号: 9612024Y1274
第一完成单位: 西安工业大学
联 系 人: 张颖莉
成果类型: 应用技术
成果体现形式 : 新技术
技术领域: 先进制造
应用行业: 制造业
学科分类: 光谱学(140.3025)
应用状态: 试用
完成人: 李世杰,李兆,黄岳田,杨陈,梁海锋,蔡长龙,刘卫国
成果简介:
根据项目目标，拟开展类“分子滤光”薄膜复合微透镜阵列光学组件的研制，采用光学薄膜技术制备陷波滤光片阵列；复合微透镜阵列，实现所有通道陷波成像，同时保留参考通道成像；获得陷波图像后，与参考通道匹配对准做差分运算，得到各通道光谱图像。研究内容包括系统总体设计、陷光滤光片膜系设计和制备、阵列透镜设计和研制以及多通道光谱成像实验验证。
